LXRD 研究级微区机型是 Proto 功能最全面的研究级残余应力测量仪器。该机型在标准配置基础上增加了一个次级 Chi 旋转轴，支持同倾法、修改侧倾法以及真侧倾法三种衍射几何。X 射线束光斑可小至 30 微米，配备视频显微镜用于精确定位，能够在不对工件进行切割的情况下测量复杂几何形状的微小区域。系统还支持极图法进行单晶定向和单晶应力测量，是材料科学研究与高端失效分析的终极平台

1. 微区分析能力：X 射线束光斑可小至 30 μm，可在不切割工件的情况下测量复杂几何形状的微小区域。

2. 三种衍射几何：支持同倾法、修改侧倾法及真侧倾法，满足最严苛的研究需求。

3. 单晶分析能力：支持极图法进行单晶定向和单晶应力测量。

4. 精确定位：配备视频显微镜，确保微区测量位置精准。

5. 研究级配置：次级 Chi 旋转轴提供完整的三维应力分析能力。

6. 专利技术：Proto 专利微区系统，能够测量更复杂几何形状的部件。

• X 射线管功率：1200 W

• 整体尺寸（L×W×H）：1100 × 1100 × 1900 mm

• 推荐最大零件尺寸：300 mm

• Z 轴行程：300 mm

• 云图平台（X，Y）：100 × 100 mm

• Phi 旋转台：MGR40，旋转角 0–360°

• 测角仪：MG2000 + Chi 轴

• 衍射几何：同倾法、修改的侧倾法、真侧倾法

• X 射线管：直径 60 mm 细聚焦陶瓷材料

• 微束光斑：30 μm、40 μm、75 μm、100 μm、150 μm 可选

• 探测器：柔性光纤基固态位敏探测器（PSSD），标准 19.3°

• 2θ 角范围：残余应力 110°–171°；残余奥氏体 70°–171°

• 测量速度：钢铁 2–4 分钟（取 14 个 psi）；钛合金 5–8 分钟（取 14 个 psi）

• 测量精度：±6.9 MPa（无应力铁粉）

• 附加功能：极图法单晶定向和单晶应力测量

• 聚焦方式：手动、自动、激光（可选）

• 冷却方式：内置空气-水热交换系统

• 防护罩：机柜式，完全互锁，清晰视窗

• 工作温度：0–35°C，无冷凝湿度