晶圆翘曲测试系统

热测测试技术(苏州)有限公司的Alpha系列热翘曲和热膨胀系数(CTE)测量系统,是一款专为半导体与电子封装行业打造的交钥匙测量解决方案。该系统主要用于精确测量晶圆(Wafer)、IC芯片及线路板(PCB) 等材料,在温度变化下的热翘曲(Warpage)、热膨胀系数(CTE)及应变(Strain)

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